
OLDALAINK
KAPCSOLAT
CR etalon
A CR képminőség-jelző a CR szkenner rendszerek összes fontos paraméterének tesztelésére szolgál az ASTM E 2445-05, ISO 16371-1 és EN 14784-1 szabványok szerint. A CR etalon mérési eszközöket biztosít: térbeli felbontás, élesség, kontraszt, MTF, szkenner csúszás és árnyékolás ellenőrzésére.
Kérésre egyedi etalon készítésére is van lehetőség.
Elérhetőség dátuma:
Műszaki adatok (az elvárások szerint módosítható):
méretek: 350 x 430 x 19 mm
PMMA-ból (Lucite) készült
T-alakú sárgaréz céltárgy (lézersugár jitter, MFT ellenőrzés, virágzás / fellángolás)
Pro-NDT DuplexWireIQI tesztobjektum (alapvető térbeli felbontás, élesség)
BAM csiga ólomból és alacsony nedvszívóképességű anyagból (középső sugárigazítás)
két konvergáló vonalpár felbontási minta (Pro-Res MAM ConeType)
három Ø19 x 0,3 mm (EL, EC, ER) mérési pont (árnyékolás korrekció)
kazetta pozicionáló lokátor
homogén 0,5 mm-es Al csík (szkennelési csúszás, árnyékolás)
két cm / hüvelyk vonalzók (linearitás ellenőrzése)
három kontrasztérzékenységmérő Al, Cu és rozsdamentes acélból négy különböző mélységű furattal
kalibrálási / vizsgálati tanúsítvány az ASTM E 2445-05, EN 14784-1 és ISO 16371-1 szerint
A termék jellemzői:
megfelel:
– ASTM E 2445-05
– ISO 16371-1
– EN 14784-1
CE tanúsítvánnyal rendelkezik (megfelelőségi nyilatkozat az ISO/IEC 17050-1 szerint)
a kézikönyv útmutatást ad az egyes vizsgálatok elvégzéséhez, az eredmények értékeléséhez és a regisztrációhoz