Információ

Információk

OLDALAINK

Jupiter Tech Webshop

Dino-Lite mikroszkópok

Starcke csiszolóanyagok

KAPCSOLAT

Információ

Adatvédelmi nyilatkozat

CR etalon Nagyobb

CR etalon

CR etalon

A CR képminőség-jelző a CR szkenner rendszerek összes fontos paraméterének tesztelésére szolgál az ASTM E 2445-05, ISO 16371-1 és EN 14784-1 szabványok szerint. A CR etalon mérési eszközöket biztosít: térbeli felbontás, élesség, kontraszt, MTF, szkenner csúszás és árnyékolás ellenőrzésére.

Kérésre egyedi etalon készítésére is van lehetőség.

Bővebb leírás

Egyéb információ

Műszaki adatok (az elvárások szerint módosítható):

méretek: 350 x 430 x 19 mm

PMMA-ból (Lucite) készült

T-alakú sárgaréz céltárgy (lézersugár jitter, MFT ellenőrzés, virágzás / fellángolás)

Pro-NDT DuplexWireIQI tesztobjektum (alapvető térbeli felbontás, élesség)

BAM csiga ólomból és alacsony nedvszívóképességű anyagból (középső sugárigazítás)

két konvergáló vonalpár felbontási minta (Pro-Res MAM ConeType)

három Ø19 x 0,3 mm (EL, EC, ER) mérési pont (árnyékolás korrekció)

kazetta pozicionáló lokátor

homogén 0,5 mm-es Al csík (szkennelési csúszás, árnyékolás)

két cm / hüvelyk vonalzók (linearitás ellenőrzése)

három kontrasztérzékenységmérő Al, Cu és rozsdamentes acélból négy különböző mélységű furattal

kalibrálási / vizsgálati tanúsítvány az ASTM E 2445-05, EN 14784-1 és ISO 16371-1 szerint

A termék jellemzői:

megfelel:

– ASTM E 2445-05

– ISO 16371-1

– EN 14784-1

CE tanúsítvánnyal rendelkezik (megfelelőségi nyilatkozat az ISO/IEC 17050-1 szerint)

a kézikönyv útmutatást ad az egyes vizsgálatok elvégzéséhez, az eredmények értékeléséhez és a regisztrációhoz

8 hasonló termékek ugyanazon kategóriában: